Nih Sejarah Asal Usul, Inovasi Dan Perkembanganya Mikroskop

Sejarah Asal Usul, Penemuan dan Perkembanganya Mikroskop - Mikroskop secara sederhana diartikan sebagai sebuah alat yang memungkinkan insan untuk mengamati suatu benda atau makhluk hidup yang berukuran terlampau kecil sehingga tidak bisa dilihat dan diamati hanya dengan memakai mata telanjang. 

Zacharias Janssen 

Dalam sejarah, yang dikenal sebagai pembuat mikroskop pertama kali ialah 2 ilmuwan Jerman, yaitu Hans Janssen dan Zacharias Janssen (ayah-anak) pada tahun 1590. Temuan mikroskop ketika itu mendorong ilmuan lain, menyerupai Galileo Galilei (Italia), untuk menciptakan alat yang sama. Galileo menuntaskan pembuatan mikroskop pada tahun 1609, dan mikroskop yang dibuatnya dikenal dengan nama mikroskop Galileo. Mikroskop jenis ini memakai lensa optik, sehingga disebut mikroskop optik. Mikroskop yang dirakit dari lensa optic mempunyai kemampuan terbatas dalam memperbesar ukuran obyek. Hal ini disebabkan oleh limit difraksi cahaya yang ditentukan oleh panjang gelombang cahaya. Secara teoritis, panjang gelombang cahaya ini hanya hingga sekitar 200 nanometer. Untuk itu, mikroskop berbasis lensa optik ini tidak bisa mengamati ukuran di bawah 200 nanometer.

Hans Janssen

Untuk melihat benda berukuran di bawah 200 nanometer, diharapkan mikroskop dengan panjang gelombang pendek. Dari inspirasi inilah, di tahun 1932 lahir mikroskop elektron. Sebagaimana namanya, mikroskop elektron memakai sinar elektron yang panjang gelombangnya lebih pendek dari cahaya. Karena itu, mikroskop elektron mempunyai kemampuan pembesaran obyek (resolusi) yang lebih tinggi dibanding mikroskop optik. Sebenarnya, dalam fungsi pembesaran obyek, mikroskop elektron juga memakai lensa, namun bukan berasal dari jenis gelas sebagaimana pada mikroskop optik, tetapi dari jenis magnet. Sifat medan magnet ini bisa mengontrol dan mempengaruhi elektron yang melaluinya, sehingga bisa berfungsi menggantikan sifat lensa pada mikroskop optik. Kekhususan lain dari mikroskop elektron ini ialah pengamatan obyek dalam kondisi hampa udara (vacuum). Hal ini dilakukan lantaran sinar elektron akan terhambat alirannya kalau menumbuk molekul-molekul yang ada di udara normal. Dengan menciptakan ruang pengamatan obyek berkondisi vacuum, tumbukan elektron-molekul bisa terhindarkan.

Ada 2 jenis mikroskop elektron yang biasa digunakan, yaitu transmission electron microscopy (TEM) dan scanning electron microscopy (SEM). TEM dikembangkan pertama kali oleh Ernst Ruska dan Max Knoll, 2 peneliti dari Jerman pada tahun 1932. Saat itu, Ernst Ruska masih sebagai seorang mahasiswa doktor dan Max Knoll ialah dosen pembimbingnya. Karena hasil inovasi yang mengejutkan dunia tersebut, Ernst Ruska menerima penghargaan Nobel Fisika pada tahun 1986. Sebagaimana namanya, TEM bekerja dengan prinsip menembakkan elektron ke lapisan tipis sampel, yang selanjutnya isu wacana komposisi struktur dalam sample tersebut sanggup terdeteksi dari analisis sifat tumbukan, pantulan maupun fase sinar elektron yang menembus lapisan tipis tersebut. Dari sifat pantulan sinar elektron tersebut juga bisa diketahui struktur kristal maupun arah dari struktur kristal tersebut. Bahkan dari analisa lebih detail, bisa diketahui gugusan struktur atom dan ada tidaknya cacat (defect) pada struktur tersebut. Hanya perlu diketahui, untuk observasi TEM ini, sample perlu ditipiskan hingga ketebalan lebih tipis dari 100 nanometer. Dan ini bukanlah pekerjaan yang mudah, perlu keahlian dan alat secara khusus. Obyek yang tidak bisa ditipiskan hingga order tersebut sulit diproses oleh TEM ini. Dalam pembuatan divais elektronika, TEM sering dipakai untuk mengamati penampang/irisan divais, berikut sifat kristal yang ada pada divais tersebut. Dalam kondisi lain, TEM juga dipakai untuk mengamati irisan permukaan dari sebuah divais.

Tidak jauh dari lahirnya TEM, SEM dikembangkan pertama kali tahun 1938 oleh Manfred von Ardenne (ilmuwan Jerman). Konsep dasar dari SEM ini bekerjsama disampaikan oleh Max Knoll (penemu TEM) pada tahun 1935. SEM bekerja menurut prinsip scan sinar elektron pada permukaan sampel, yang selanjutnya isu yang didapatkan diubah menjadi gambar. Imajinasi mudahnya gambar yang didapat menyerupai sebagaimana gambar pada televisi. 

Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada mikroskop optic dan TEM. Pada SEM, gambar dibentuk menurut deteksi elektron gres (elektron sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel ketika permukaan sampel tersebut discan dengan sinar elektron. Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang ditipiskan, sehingga bisa dipakai untuk melihat obyek dari sudut pandang 3 dimensi.

Demikian, SEM mempunyai resolusi tinggi dan familiar untuk mengamati obyek benda berukuran nano meter. Meskipun demikian, resolusi tinggi tersebut didapatkan untuk scan dalam arah horizontal, sedangkan scan secara vertikal (tinggi rendahnya struktur) resolusinya rendah. Ini merupakan kelemahan SEM yang belum diketahui pemecahannya. Namun demikian, semenjak sekitar tahun 1970-an, telah dikembangkan mikroskop gres yang mempunyai resolusi tinggi baik secara horizontal maupun secara vertikal, yang dikenal dengan "scanning probe microscopy (SPM)". SPM mempunyai prinsip kerja yang berbeda dari SEM maupun TEM dan merupakan generasi gres dari tipe mikroskop scan. Mikroskop yang kini dikenal mempunyai tipe ini ialah scanning tunneling microscope (STM), atomic force microscope (AFM) dan scanning near-field optical microscope (SNOM). Mikroskop tipe ini banyak dipakai dalam riset teknologi nano ".

Referensi:

https://sejarahasal.blogspot.com//search?q=sejarah-awal-berdiri-negara-jerman

https://sejarahasal.blogspot.com//search?q=sejarah-awal-berdiri-negara-jerman

Share this post